超聲波測厚儀

超聲波測量厚度的原理與光波測量原理相似。探頭發(fā)射的超聲波脈沖到達背測物體并在物體中傳播，到達材料分界面時被反射回探頭，通過精度測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

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產品詳情

超聲波測厚儀

型號： leeb321

儀器資料：

基本原理：

功能特點：

1.針對復合、未知材料已知厚度，反測聲速；

2.設置上下限公差，超過自動報警；

3.中英文操作菜單；

4.狀態(tài)提示功能。

5.適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其它超聲波的良導體的厚度；

6.具有探頭零點校準、可對系統誤差進行自動修正；

7.具有耦合狀態(tài)提示功能；

8.有高亮度LED背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用；

9.有剩余電量指示功能，可實現顯示電池剩余電量；

10.具有自動休眠、自動關機等節(jié)電功能；

11.小巧、便攜，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動、沖擊和電磁干擾；

12公制與英制可選擇。

技術參數：

名稱	型號	頻率(MHz)	探頭直徑	測量范圍	小管徑	特性描述
標準探頭	L51	5	10mm	1.0mm～250.0mm(鋼)	Φ20mm×3.0mm	常溫使用(<60℃)
微徑探頭	L77	7	6mm	0.75mm～50.0mm(鋼)	Φ15mm×2.0mm	用于薄壁及小弧面量, 常溫使用(<60℃)
粗晶探頭	LZ2	2	22mm	2.5mm～350mm(鋼)	20	用于鑄鐵等粗晶材質測量,常溫使用(<60℃)
高溫探頭	LG5	5	14mm	2.0～100mm(鋼)	30	用于溫度小于300℃的材料的測量